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电学测试解决规划

BX5110 天堑扫描测试仪

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● 操作方式 :自动

● 利用领域 :手机、、推算机等ICT产品

● 合用测试 :天堑扫描测试

● 合用场景 :拥有JTAG接口产品的CM工厂

利用领域 :

基于IEEE 1149.1/1149.6/1149.7天堑扫描测试尺度,,BEST作为一套壮大的工具,,以执行PCB上的结构测试,,确保电路板的靠得住性和机能。。。。这款分析仪不仅简化了电路板测试过程,,还提高了测试的效能和正确性。。。。通过其直观的界面和先进的测试职能,,BEST可能急剧鉴别和定位电路板上的问题,,如开路、、短路和焊接故障。。。。无论是对于原型设计验证、、出产测试还是现场维修,,BEST都是一款不成或缺的测试设备,,为电子制作业和研发领域提供了靠得住的解决规划。。。。

重要特点 :

● 支持IEEE1149.1、、IEEE1149.6 、、IEEE1149.7和谈 

● 支持IO独立节制,,每个IO参考电平独立设置

● 可支持4个TAP接口 (需配置HUB BOX)

● 可凭据待测设备的五档文件自动天生测试项目

● 软件支持剧本运行,,以提高开发便捷性

● 开发和运行软件支持Windows,MacOS,Linux系统

重要参数:

输出高电平领域1.2V~5.0V
输出电平精度0.1V
驱动电流能力MAX 30mA
丈量电压领域0.5~5.0V
丈量电压精度0.1V


机械&电气规格 :


机械规格TAP PORT

HUB BOX

外尺寸

55(W)*115 (L)*20(H)mm*X

98(W)*175(L)*27.5(H)mm
净重approx.200gapprox.600g
毛重

approx.500g

approx.1000g


电气规格
TAP PORT

HUB BOX

能量功耗

2.5W

48W

工作电压DC5DC12
节制接口

USB Type-C 

RJ45


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